LCR-8110G 大量程高精度LCR测试仪1MHz宽广的测量频率范围以及0.1%的基本精确度。另外，还包括DC电阻测量以及电压/电流监测功能，并搭配5.6"LCD可以同时显示所有测试参数及结果。多步骤测试功能可以针对同一待测体一次执行不同参数的测量，快速分析待测体的特性；并且每组编程包括30个测试步骤，每个步骤均可以设置测试参数和限制，执行Pass/Fail判定。

更新时间：2024-07-01

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LCR-8110G 大量程高精度LCR测试仪主要介绍：

LCR-8110G高精度LCR测试仪，提供高达1MHz宽广的测量频率范围以及0.1%的基本精确度。另外，还包括DC电阻测量以及电压/电流监测功能，并搭配5.6”LCD可以同时显示所有测试参数及结果。多步骤测试功能可以针对同一待测体一次执行不同参数的测量，快速分析待测体的特性；并且每组编程包括30个测试步骤，每个步骤均可以设置测试参数和限制，执行Pass/Fail判定。图表模式功能，LCR-8110G将以图表的形式，显示元器件的阻抗特性随着扫描频率或电压的变化所呈现的规律，并以曲线图的形式显示结果。标准配备的GPIB和RS-232C接口，可以用于设备远端控制和读取测试结果。LCR-8110G系列丰富的特点让您的测试任务变得更加简单而实用。

LCR-8110G 大量程高精度LCR测试仪主要特点：

※ 宽广的测试频率范围20Hz~10MHz
※ 0.1%基本精确度
※ 6位解析度
※ DC电阻测量
※ 带有被测元件电压/电流监控的测量功能
※ 带有判断警报的PASS/FAIL测试功能
※ 超大LCD显示屏和友好的用户界面
※ 多步骤模式
※ 图表模式
※ ±200V偏压盒（选配）
※ 标准RS-232C/GPIB接口

LCR-8110G 大量程高精度LCR测试仪技术参数：

测试频率
20Hz ~ 10MHz, 5 位数, ±0.005%
输入阻抗
100Ω
基本准确度
±0.1% (R, Z, X, G, Y, B, L, C)
测试速度
交流 (> 2kHz)	直流
大(MAX): 75mS	大(MAX): 30mS
快速(FAST): 150mS	快速(FAST): 60mS
中速(MEDIUM): 450mS	中速(MEDIUM): 120mS
慢速(SLOW): 600mS	慢速(SLOW): 900mS
测试信号电平
≦3MHz：10mV~2Vrms, 1mV/Step or 10mV/Step, 2%±5mV ＞3MHz：10mV~1Vrms, 1mV/Step or 10mV/Step, 2%±5mV
短路电流
大20mA
测量范围
R, Z, X	0.1mΩ ~ 100MΩ
G, Y, B	10nS ~ 1000S
L	0.1nH ~ 100kH
C	0.01pF ~ 1F
D	0.00001 ~ 9.9999
Q	0.1 ~ 9999.9
θ	-180° ~ +180°
Rdc	0.1mΩ ~ 100MΩ
测量参数
阻抗 (Z), 相位角 (θ), 电感 (L), 电容 (C), 交流电阻 (Rac), 品质因数 (Q), 损耗因数 (D), 导纳 (Y), 电导 (G), 电抗 (X), 电纳 (B), 直流电阻 (Rdc)
串联 / 并联等效电路
C + R, C + D, C + Q, L + R, L + Q, L + D
串联等效电路
X + R, X + D, X + Q
并联等效电路
C + G, B + G, B + D, B + Q, B + R, L + G
向量测量组合
Z + Phase Angle, Y + Phase Angle
LCD显示屏
320 x 240 点阵显示
接口
RS-232, GPIB
电源
AC 115V ±10% / 230V ±10% (可选), 50/60Hz
尺寸&重量
330(宽) x 170(高) x 340(深)mm, 约5公斤